（一）渦流檢測
渦流檢測適用于檢查方矩管表面以下一般不大于6－7mm深的缺陷。渦流檢測分放置式線圈法和穿過式線圈法2種。如果鑄件表面存在缺陷，則渦流的電特征會發(fā)生畸變，從而檢測出缺陷的存在，渦流檢測的主要缺點是不能直觀顯示探測出的缺陷大小和形狀，一般只能確定出缺陷所在表面位置和深度。
（二）射線檢測
一般用X射線或γ射線作為射線源，因此需要產(chǎn)生射線的設備和其他附屬設施，當方矩管置于射線場照射時，射線的輻射強度就會受到鑄件內(nèi)部缺陷的影響。穿過鑄件射出的輻射強度隨著缺陷大小、性質的不同而有局部的變化，形成缺陷的射線圖像，通過射線膠片予以顯像記錄，或者通過熒光屏予以實時檢測觀察，或者通過輻射計數(shù)儀檢測。此外，使用近似點源的微焦點X射線系統(tǒng)實際上也可消除較大焦點設備產(chǎn)生的模糊邊緣，使圖像輪廓清晰。使用數(shù)字圖像系統(tǒng)可提高圖像的信噪比，進一步提高圖像清晰度。
（三）液體滲透
液體滲透檢測用來檢查方矩管表面上的各種開口缺陷。常用的滲透檢測是著色檢測，它是將具有高滲透能力的有色液體浸濕或噴灑在鑄件表面上，滲透劑滲入到開口缺陷里面，快速擦去表面滲透液層，再將易干的顯示劑噴灑到鑄件表面上，待將殘留在開口缺陷中的滲透劑吸出來后，顯示劑就被染色從而可以反映出缺陷的形狀、大小和分布情況。除著色檢測外，熒光滲透檢測也是常用的液體滲透檢測方法，它需要配置紫外光燈進行照射觀察，檢測靈敏度比著色檢測高。
（四）超聲檢測
利用具有高頻聲能的聲束在管材內(nèi)部的傳播中，碰到內(nèi)部表面或缺陷時產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù)，因此可以應用各種缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。超聲檢測作為一種應用比較廣泛的無損檢測手段，其主要優(yōu)勢表現(xiàn)在檢測靈敏度高，可以探測細小的裂紋;具有大的穿透能力，可以探測厚截面等方面。
（五）磁粉檢測
適合于檢測表面缺陷及表面以下數(shù)毫米深的缺陷，它需要直流磁化設備和磁粉才能進行檢測操作。磁化設備用來在鑄件內(nèi)外表面產(chǎn)生磁場，磁粉或磁懸浮液用來顯示缺陷。當在方矩管一定范圍內(nèi)產(chǎn)生磁場時，磁化區(qū)域內(nèi)的缺陷就會產(chǎn)生漏磁場，當撒上磁粉或懸浮液時，磁粉被吸住，這樣就可以顯示出缺陷來。
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